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電池硅片測厚儀-數(shù)據(jù)可追溯

更新時間:2024-02-06點擊次數(shù):378

電池硅片測厚儀-數(shù)據(jù)可追溯



在制造業(yè)和科學研究領域,對不同材料的厚度進行準確測量至關重要。厚度不僅影響材料的性能和穩(wěn)定性,還會對其機械、電氣和熱學等方面的特性產(chǎn)生影響。為了精確測量各種材料的厚度,人們開發(fā)出了測厚儀這一高效工具。本文將詳細介紹測厚儀在薄膜、薄片、鋰電池隔膜、電池硅片和太陽能硅片厚度測量中的應用。

 

 

提高測量精度的方法

 

1、測厚儀的測量精度是評價其性能的關鍵指標。為了提高測量精度,可以采取以下措施:

 

2、使用高精度的測量頭和傳感器,以提高測量系統(tǒng)的靈敏度和準確性;

3、采用數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)和校準技術,對測量數(shù)據(jù)進行實時處理和修正,以減小誤差;

4、在穩(wěn)定的實驗環(huán)境下進行測量,以避免環(huán)境因素對測量結果產(chǎn)生干擾。

 

根據(jù)測厚儀的測量結果,可以對材料的厚度進行深入分析。例如,可以比較不同批次材料的厚度差異,評估材料的質量和穩(wěn)定性。此外,通過對厚度與材料性能之間的關系進行研究,可以為材料科學和工程領域提供有價值的參考數(shù)據(jù)。CHY-U測厚儀(3).jpg

 

在鋰電池隔膜、電池硅片和太陽能硅片的厚度測量中,精確的厚度數(shù)據(jù)對于保障產(chǎn)品質量和優(yōu)化生產(chǎn)工藝具有重要意義。例如,過厚的隔膜可能會影響電池的能量密度和充放電性能,而太薄的太陽能硅片則可能降低其光電轉換效率。通過測厚儀,可以精確控制這些材料的厚度,從而提高產(chǎn)品的性能和穩(wěn)定性。

 

 

技術參數(shù)               

測量范圍           0-2mm (其他量程可定制)

分辨率             0.1um

測量速度           10/min(可調)

測量壓力           17.5±1kPa(薄膜);100±1kPa(紙張)

接觸面積           50mm2(薄膜),200mm2(紙張) 注:薄膜、紙張任選一種

進樣步矩           0 1300 mm(可調)

進樣速度           0 120 mm/s(可調)

機器尺寸           450mm×340mm×390mm (長寬高)

              23Kg

工作溫度           15-50

相對濕度           80%,無凝露

試驗環(huán)境           無震動,無電磁干擾

工作電源           220V 50Hz 



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